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  • 手持式X熒光光譜儀 手持式X熒光光譜儀

    手持式X熒光光譜儀重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀.采用了布魯克公司的SharpBeam?技術,并配置了布魯克技術X-Flash?SDD探測器,向您提供快.....

  • 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g

    TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

  • 微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO

    微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

  • TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

    TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。

  • 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS

    M4 TORNADO微區X射線熒光成像光譜儀PLUS是能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

  • 便攜臺式xrf分析儀 便攜臺式xrf分析儀

    便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現場檢測,但是,當需要對樣品進行預備時;當樣品為粉末,固體和液體等形態,存放在容器中時;當需要較長時間的檢測.....

  • 手持式合金分析儀 手持式合金分析儀

    手持式合金分析儀是質量控制(QA/QC),材料分析(PMI),混料識別,廢料分揀(Recycling),牌號識別(Grade ID)等領域中的檢測設備小巧的設計,準確的測量精度,抵抗惡劣環境的能力,更.....

  • 探針式輪廓儀Dektak XTL 探針式輪廓儀Dektak XTL

    探針式輪廓儀是一種用于化學,材料科學,電子與通信技術,化學工程領域的分析儀器.分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度.它的雙攝像頭設置使空間感增強,其高水平自動化可生產量.

  • 臺階儀-表面輪廓儀 臺階儀-表面輪廓儀

    德國布魯克DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?.使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管.....

  • 三維光學輪廓儀 三維光學輪廓儀

    表面輪廓儀用于加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫療設備,MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選項和易用性等特點,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。

  • 光學輪廓儀ContourGT-X 光學輪廓儀ContourGT-X

    布魯克光學輪廓儀特性:業界標桿,大視場下高的垂直分辨率;從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征;硬件的優化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性

  • 反射膜厚儀 反射膜厚儀

    反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。

  • 原子力顯微鏡Dimension FastScan 原子力顯微鏡Dimension FastScan

    原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?分辨率的儀器性能前提下,解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

  • 摩擦磨損儀 摩擦磨損儀

    布魯克UMT摩擦磨損儀由于其良好的兼容新和多模塊化設計得到了市場。良好的設備兼容性設計理念,可以使一個樣品在同一個實驗設備上實現多種性能表征,大大節省了試驗時間.模塊化設計,輕松快速實現模塊的更換。

  • I-V 曲線測試儀 I-V 曲線測試儀

    PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案

  • 電荷靈敏前置放大器 電荷靈敏前置放大器

    CUBE(立方)是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續復位模式運行。

  • 原子力顯微鏡探針/AFM探針 原子力顯微鏡探針/AFM探針

    原子力顯微鏡探針(AFM探針)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器.在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域,逐漸發展成為重要的、多功能材的材料表征工

  • 涂層測厚儀 涂層測厚儀

    涂層測厚儀應用范圍廣泛:它們是檢查進貨部門所交付材料的理想工具。

  • 涂層測厚儀SURFIX?X系列 涂層測厚儀SURFIX?X系列

    的測量儀器: 彩屏, PC 連接,易操作, 以及適合PHYNIX探頭。

  • 涂層測厚儀SURFIX?系列 涂層測厚儀SURFIX?系列

    用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量

  • 涂層測厚儀SURFIX?簡易系列 涂層測厚儀SURFIX?簡易系列

    涂層測厚儀SURFIX?簡易系列 適用于粗糙的環境及實驗室中。

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